１.概要
X線回折法は、物質中の原子配列を解析するための基本的な解析方法である。このX線回折装置は右図に示す通り、実験室に設置できる範囲で最も強力なX線源を有するとともに、そのX線を100μm径に集光する光学素子と、高感度・高ダイナミックレンジの二次元検出器を備える。強いX線を微小空間に集めて使うことにより、大きさ100μm以上の結晶がひとつ準備できれば、その原子の配列を、１時間以内に素早く調べることができる。一方でX線の感度が低い軽元素を主成分とする物質や、非晶質の原子配列についても、多少の時間をかければ調べることができる。このように各種の材料や、宇宙、地球、環境にある物質の解析等に応用できる、初心者に使いやすい装置である。ある程度の試料の量が準備できる粉末について、特に高い角度分解能を要する場合には、高分解能粉末Ｘ線回折装置の利用を推奨する。
２.特性
● X線発生源
9kW回転対陰極型、Cuターゲット
● X線入射光学系
集中法と放物面多層膜ミラーによる平行法の切替により、多目的のＸ線回折実験に対応
● X線集光光学系（付け外し可能）
100μm直径にまで集光したビームを試料ステージの回転中心に正確に照射できる
● 試料ステージ
XYＺ軸に加えて、回転中心に置いた薄膜試料、微小試料の方位の操作の為の二軸を有する
あおり軸：水平位置から-5°～ +95°の傾斜が可能 水平回転軸：360°の回転が可能
３.設置場所
第一研究棟 １階 105
４.提出書類
出張・実験実施計画書、管理区域立入願、放射線業務従事者証明書
５.装置担当者、連絡先
奥地拓生 okuchi.takuo.2w*kyoto-u.ac.jp(*→@）
