１．概要
X線回折法は、物質中の原子配列を解析するための基本的な解析方法である。このX線回折装置では、右図に示す通り粉末の試料を水平に配置して、高い角度分解能で計測を行う。また右側のカウンターモノクロメーターに回折したＸ線を通過させた後に検出をすることで、バックグラウンドをほぼ完全に除くことができる。これらの利点を活かして、高い精度の結晶構造解析を実現できる。ある程度の量が確保できる粉末の計測については、試料の準備を含めて初心者にも使いやすい装置である。一方でX線の強度は標準的であり、試料量が数十ミリグラム程度以下になると計測が難しくなる。このような少量の粉末や、100μm程度以上の大きさの単結晶の計測には、強いX線を発生できる全自動多目的Ｘ線回折装置の利用を推奨する。
２．特性
● X線発生源
1.6kW封入管、Cuターゲット
● X線入射光学系
集中法により高波長分解能のＸ線回折実験に対応
● X線カウンターモノクロメーター
蛍光X線をほぼ完全に除去することができる。
つまり回折を起源としないX線のカウントがなくなり、
ベースラインが平らになるので、弱い回折ピークを検出しやすい。
● 試料ステージ
水平に配置するために試料粉末を固める必要がなく、実験時の試料準備が容易である。
３．設置場所
第一研究棟 １階 113号室
４．提出書類
出張・実験実施計画書、管理区域立入願
５．装置担当者、連絡先
奥地拓生 okuchi.takuo.2w*kyoto-u.ac.jp（*→@)
