１.概要
熱電材料のゼーベック係数および電気抵抗率を同時に測定する装置である（アドバンス理工 ZEM-3 シリーズ）。試料を上下ブロック間に垂直保持し、加熱炉で所定温度まで昇温したのち、下部ブロックの差温ヒータにより試料軸方向に微小温度差を与え、その際に発生する起電力からゼーベック係数を求める（静的直流法）。同時に直流四端子法により電気抵抗率を測定する。半導体、金属系を含む幅広いバルクや薄膜熱電材料に適用可能である。
２.特性
・測定項目：ゼーベック係数、電気抵抗率
・測定温度範囲：室温 ～ 800℃
・試料形状：角柱状または円柱状（断面 2～4㎜ 角または直径 2～4㎜、長さ 5～22㎜）
・リード間隔：4, 6, 8 ㎜ から選択可能
・測定雰囲気：低圧ヘリウムガス
３.設置場所
第一研究棟(1F) 実験室I-106
４.提出書類
出張・実験実施計画書（測定試料の組成、形状・寸法、希望測定温度範囲等を含む）
５.装置担当者、連絡先
孫 一帆 sun.yifan.7r*kyoto-u.ac.jp（*→＠）
６.その他
薄膜試料の測定をご希望の場合は、装置担当者までご相談ください。