走査型電子顕微鏡

1．概要

材料の表面構造を観察するための装置である。

2．特性

日本電子社製　JSM-5800；エネルギー分散形X線分析装置付き
最高加速電圧：30kV
　分　解　能：3.5 nm

3．設置場所

研究棟ホットラボ（放射線管理区域内）

4．提出書類

出張・実験実施計画書、管理区域立入願

5．装置担当者

徐虬　xu.qiu.8z*kyoto-u.ac.jp（＊→＠）

6．その他 　　
込み合うことがあるので、ご希望の日程で利用できないことがある